HORIBA XploRA Nano：AFM - 拉曼联用，纳米尺度的化学与结构表征利器

2026-01-16 09:14

HORIBA XploRA Nano 是一套SmartSPM 扫描探针显微镜与 XploRA Plus 显微光谱仪的耦合系统德彩网7999，作为紧凑、全自动的全功能分析平台，它以经济适用的特点，实现了原子力显微镜（AFM）与拉曼光谱的联用，尤其能完成针尖增强拉曼（TERS）成像，是纳米尺度下 “结构表征 + 化学分析” 的一体化解决方案。

硬件配置：高精度与灵活性兼备

德彩网7999XploRA Nano 的核心硬件由 SmartSPM 模块与 XploRA Plus 光谱仪组成，参数与性能均适配纳米级精细表征：

1. SmartSPM 扫描器与基座

  • 扫描性能：闭环平板扫描器覆盖 100 μm×100 μm×15 μm 范围，非线性极低（XY≤0.05%、Z≤0.05%），噪声水平优异（XY≤0.1nm RMS@200Hz 带宽），高频扫描速度可达 XY≥7kHz、Z≥15kHz，兼顾精度与效率；
  • 样品适配：支持 40 mm×50 mm×15 mm 尺寸样品，自动样品台定位范围 5 mm×5 mm，定位精度达 1μm，配合 XYZ 数字闭环控制的自动趋近功能，操作更便捷；
  • 稳定性：高共振频率扫描器设计，可远离环境噪音干扰，无需主动隔振系统即可稳定运行。

2. AFM 测试头

  • 采用1300nm 激光波长（光谱检测器无干扰），搭配全自动悬臂 - 光电二极管激光准直，简化操作流程；
  • 预留探针自由通道，支持外部操作与探针对接，适配多样表征需求。

3. XploRA Plus 光谱仪

  • 作为全自动显微光谱仪，可独立用作拉曼光谱仪，波长范围覆盖 75cm⁻¹ 至 4000cm⁻¹；
  • 配备四光栅自动切换（600/1200/1800/2400 g/mm），支持全光谱范围的拉曼与光致发光分析；
  • 光源可选 532nm、638nm、785nm 等波长，支持软件全自动控制，适配不同样品的荧光抑制需求；
  • 搭配全光谱范围 CCD 和 EMCCD 检测器，保障信号灵敏度。

4. 丰富的测量模式

  • SPM 模式：覆盖接触 / 半接触 / 非接触等标准模式，及液体环境、导电 AFM、STM 等升级模式，适配不同样品状态与表征维度；
  • 光谱模式：支持共聚焦拉曼、荧光 / 光致发光成像，以及针尖增强拉曼（TERS）、针尖增强荧光（TEPL）、近场光学显微（NSOM）等纳米光谱技术。

核心优势：多维度、高效率的纳米表征

XploRA Nano 的设计直击科研与工业的精细表征痛点：

  • 多尺度兼容：宏观、微观、纳米尺度测量可在同一平台完成，无需转移样品；
  • 极简操作：全自动流程支持，几分钟内即可启动测量，大幅降低时间成本；
  • 高分辨率双保障：共聚焦设计实现高空间分辨率，TERS 技术进一步突破至优于 10nm 的纳米级光谱分辨率；
  • 高收集效率：顶部 + 侧向拉曼检测双通路，同时支持同区域的常规拉曼与针尖增强光谱测量；
  • 多环境适配：支持液池、电化学等特殊环境，结合多模式 SPM 技术，覆盖从干燥到复杂体系的表征需求；
  • 一体化控制：通过集成软件实现 SPM 与光谱仪的同时 / 独立操作，数据采集与分析更高效。

典型应用：覆盖多领域的纳米级研究

XploRA Nano 广泛适配材料、生物、电子等领域的精细表征需求：

  • 材料科学：半导体纳米器件的界面结构与化学组成、二维材料的缺陷与异质结分析；
  • 生物医学：生物分子的纳米结构与化学修饰、细胞表面的微区成分表征；
  • 化学领域：催化材料的表面活性位点、界面化学反应的原位监测；
  • 电子学：器件的局部电学性能与化学状态的关联分析。

专业支持：上海进佳科学仪器的可靠供应

HORIBA XploRA Nano 可通过上海进佳科学仪器有限公司获取 —— 作为 HORIBA 的授权代理，进佳科学仪器不仅能保障设备的原装品质，还可依托其在高科技行业的服务经验，提供选型咨询、技术支持及配套解决方案，助力科研与生产中的纳米表征工作高效推进。